瑞研光學(xué)小課堂：光學(xué)元件表面質(zhì)量名詞講解

瑞研光學(xué)小課堂：光學(xué)元件表面質(zhì)量名詞講解

    劃痕和麻點（坑點）的評價參數(shù)

光學(xué)表面的質(zhì)量用來衡量光學(xué)產(chǎn)品表面特性，并且涵蓋了一些劃痕和坑點等瑕疵。這些表面的大部分瑕疵純粹是表面上的瑕疵，并不會對系統(tǒng)性能產(chǎn)生很大的影響，雖然，它們可能會使系統(tǒng)通光量出現(xiàn)微小的下滑，使散射光出現(xiàn)更細(xì)微的散射。然而，有些表面會對這些影響更敏感

• 圖像平面的表面，因為這些瑕疵會產(chǎn)生聚焦
• 具有高功率級別的表面，因為這些瑕疵會增加能量吸收并毀壞光學(xué)產(chǎn)品。

表面質(zhì)量常用的規(guī)格是由MIL-PRF-13830B說明的劃痕和坑點規(guī)格。通過將表面的劃痕與在受控的照明條件下提供的一系列標(biāo)準(zhǔn)劃痕進行對比，來確定劃痕名稱。

因此，劃痕名稱不是描述其實際的劃痕，而是根據(jù)MIL規(guī)格將其與標(biāo)準(zhǔn)的劃痕進行比較。然而，坑點名稱直接與表面的點或小坑有關(guān)。坑點名稱是通過以微米計的坑點直徑除以10來計算的，通常劃痕坑點規(guī)格在80至50之間將視為標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量，在60至40之間為質(zhì)量，而在20至10之間將視為高精度質(zhì)量。

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